XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种利用X射线激发样品表面电子，并测量这些电子的能量分布，从而获得样品表面元素组成和化学态的信息的技术。然而，XPS并不能直接观察氢键。这是因为氢键是由氢原子与相邻原子之间的相互作用形成的，这种相互作用力较弱，且不改变氢原子本身的电子结构，因此在XPS的能量范围内很难被直接探测到。所以，XPS主要用来分析样品表面的元素组成和化学态，而不适合用来观察氢键的存在。

为了研究氢键，需要采用其他手段，如拉曼光谱、红外光谱、核磁共振等。这些技术可以通过检测氢原子与其他原子之间的振动或旋转运动，间接地推断出氢键的存在。